Visualización del Evento
Denominación del Curso: ANALISIS-DE-PATRONES-DE-DIFRACCION-DE-POLVOS:-METODO-RIETVELD
Categorización: Perfeccionamiento
Fecha de Inicio: 03-10-2019
Responsable:
Dr. Carlos Alberto LÓPEZ
Coordinador:
Dr. Carlos Alberto LÓPEZ
Descripción:
CARACTERÍSTICAS DEL CURSO
DESTINATARIOS Y REQUISITOS DE INSCRIPCIÓN: Egresados de carrera de grado con título universitario de 4 años o más afines a la temática del curso: Licenciados en Química, Ingenieros Químicos, Licenciados en Física, y profesionales de carreras vinculadas con las ciencias de los materiales que tengan conocimientos básicos en cristalografía.
CUPO: Mínimo: 5. Máximo: 20 personas
PROCESO DE ADMISION: El proceso de admisión se realizará teniendo en cuenta los siguientes criterios: conocimientos básicos en cristalografía, perfil del aspirante, actividad y en que se desempeña, alumno de doctorado/maestría, grado de avance en el doctorado/maestría.
CRONOGRAMA DE ACTIVIDADES:
Fecha de inicio 3 de octubre de 2019.
Las actividades teórico-prácticas se desarrollarán en 10 encuentros a razón de 2 encuentros semanales de 4 h cada uno. Los horarios serán acordados con los participantes.
Se dictará durante el mes de octubre 2019.
LUGAR DE DICTADO: Aula de posgrado de la F.Q.B.y F. - UNSL
ARANCEL GENERAL: Gratuito
OBJETIVOS:
Proveer al alumno conocimientos y fundamentos generales en cristalografía y en la técnica de difracción de rayos X.
Ofrecer alternativas en el análisis de datos de difracción de rayos X de polvos.
Introducir a los alumnos en el modelado de patrones de difracción de polvos mediante el método Rietveld.
Facilitar el uso del programa Fullprof para el refinamiento cristalográfico mediante una serie de ejercicios prácticos. Con todo esto se pretende que el alumno adquiera capacidades que le permita encarar autónomamente el análisis y refinamiento de patrones de difracción de polvos.
Informes: calopez@unsl.edu.ar